Spectrogreen ICP-OES: Doppelt hohe Nachweisempfindlichkeit

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Bild: Spectro Analytical Instruments

Spectro Analytical Instruments gibt die Einführung des neuen Spectrogreen ICP-OES bekannt.

Das Optische Emissionsspektrometer mit induktiv gekoppeltem Plasma (ICP-OES) erreicht dank seiner neuen, revolutionären „Dual Side On Interface (DSOI)“ Technologie eine doppelt so hohe Nachweisempfindlichkeit wie herkömmliche Geräte mit radialer Plasmabetrachtung – und das bei einem überzeugenden Preis-/Leistungsverhältnis, so der Hersteller.

Bild: Spectro Analytical Instruments

Die DSOI-Technologie ist den Angaben nach ein völlig neuer Ansatz, um den Problemen herkömmlicher Plasmabetrachtungsdesigns zu begegnen. Hierbei kommen eine vertikale Plasmafackel und ein doppeltes optisches Interface zur beidseitigen radialen Betrachtung des Plasmas zum Einsatz. Das Ergebnis: Das DSOI bietet eine doppelt so hohe Nachweisempfindlichkeit wie herkömmliche Radialsysteme und hat weder die Nachteile, Komplexität noch Kosten vertikaler Dual-View-Geräte.

Das Gerät weist Spectro Analytical Instruments zufolge signifikante Vorteile bei der Analyse und Bestimmung von Spurenelementen von Proben mit anspruchsvollen Matrices auf. Dies gelte zum Beispiel für bestimmte Abwässer, Böden und Schlämme, aber auch für industrielle Chemikalien, Metallmatrices oder Proben mit hohen Salzgehalten. Das Spectogreen sei ideal für die Routineanalytik in Anwendungsfeldern wie Umwelt- und Landwirtschaft, Verbraucherschutz, Pharmazie, Petrochemie, Chemie und Lebensmittel. Weitere Informationen beim Anbieter.

Quelle: Spectro Analytical Instruments

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