Spektrale Signaturen: 2. Konferenz zur Optischen Materialien-Charakterisierung

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Quelle: IOSB

Karlsruhe — Vom 18. bis 19. März 2015 findet im Fraunhofer IOSB in Karlsruhe die 2. Internationale Konferenz zur Optischen Charakterisierung von Materialien (OCM-2015) statt. Auf der Konferenz werden Trends und neueste Entwicklungen in der Charakterisierung von Materialien diskutiert. Besonderes Augenmerk gilt der Technologie zur Identifikation der „spektralen Signaturen“ unterschiedlicher Materialien und deren Einsatz in der Industrie.

Professor Rudolf Kessler aus Reutlingen wird am Beginn der Veranstaltung eine Keynote zum Thema Vor- und Nachteile der verschiedenen Technologien zur optischen Spektroskopie halten. Vorassichtlich wird sie eine zunehmend wichtige Rolle auf dem Gebiet der Sensortechnik spielen wird, da mit dieser Methode chemische und morphologische Informationen gleichzeitig gewonnen werden können.

Als Konferenzthemen stehen Lebensmittel Inspektion, Kunststoff-Recycling, Abfall-Recycling, Industrielle Lösungen, Spektrale Datenverarbeitung sowie Mineraliensortierung auf dem Programm.

Bereits am 17. März tagt von 9:00 bis 17:00 Uhr im Fraunhofer IOSB das SpectroNet Kollaborationsforum 2015. Hier geht es um die nächste Generation mobiler, optischer Charakterisierung von Materialien mit photonischen Microsensoren und digitaler Bildauswertung. Ebenso findet am Abend des 17. März die Eröffnungsveranstaltung der OCM statt. Ab 17:30 Uhr erwartet die Gäste eine Zusammenfassung des SpectroNet Forums und eine Präsentation zum Sonderthema „Spektrale Signaturen von Lebensmitteln im täglichen Gebrauch“, das Fraunhofer in einer neuesten Studie anhand von Ergebnissen verschiedener Einzeluntersuchungen vorstellen wird.

Alle Informationen zur Veranstaltung sind unter OCM-2015.eu zu finden.

Die 2. Internationale Konferenz zur Optischen Charakterisierung von Materialien (OCM-2015) wird von dem Karlsruher Zentrum für Materialsignatur (KCM) in Kooperation mit dem deutschen „Institute of Electrical and Electronics Engineers“ (IEEE) organisiert. Das KCM ist ein Zusammenschluss des Karlsruher Instituts für Technologie (KIT) und der Abteilung Sichtprüfung des Fraunhofer-Instituts für Optronik, Systemtechnik und Bildauswertung (IOSB).

Quelle: Fraunhofer-Institut für Optronik, Systemtechnik und Bildauswertung IOSB